點衍射干涉儀的原理與發(fā)展

點衍射干涉儀作為一種重要的光學檢測工具，具有獨特的原理和發(fā)展歷程。
點衍射干涉儀最早由Linnik于1933年提出，1975年由Smart和Steel完成具體實施。其中，針孔點衍射干涉儀的工作原理是，聚焦透鏡將入射待測波前聚焦到加工有極小針孔的點衍射板上，形成點像彌散斑，待測波前透過點衍射板形成檢測波前，檢測波前與參考波前在點衍射板后方發(fā)生干涉產(chǎn)生干涉條紋，通過這些干涉條紋對待測波前進行檢測。

點衍射干涉儀的原理與發(fā)展

針孔點衍射干涉儀具有一些顯著特點。當針孔直徑在波長量級時，遠場衍射波前相對于理想球面波的偏離量小于萬分之一波長。針孔可以是透明的，也可以是不透明的，產(chǎn)生的球面波陣面質(zhì)量取決于遮蔽或針孔的幾何質(zhì)量。不過，衍射形成的參考光光強弱，點衍射板透過率通常多在1%左右。
點衍射干涉儀是結(jié)構(gòu)簡單的共路干涉儀，具有良好的抗震性，受大氣擾動、機械振動的影響較小，并且對光源無特殊要求，可使用普通白光光源。
在其發(fā)展過程中，還出現(xiàn)了具有點衍射功能的馬赫曾德干涉儀，這種干涉儀的排列方式多樣，可以在馬赫-曾德爾干涉儀的參考臂中通過針孔進行額外濾波。該裝置能夠作為波前測試儀，測試樣品放置在干涉儀前方。
此外，還有光纖點衍射干涉儀，單模光纖末端可用于產(chǎn)生近乎完美的球面波陣面。例如在G.Sommargren的PDI中，光纖末端涂有半透明金屬膜，通過反射光的疊加可在CCD相機上顯示干涉圖，在某些布置中甚至可避免使用目鏡。

創(chuàng)建時間：2024-08-16 14:19

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