為什么選擇非接觸式三維光學(xué)輪廓儀,該設(shè)備有什么的優(yōu)勢?
為什么要選擇非接觸式三維光學(xué)輪廓儀呢?首先,它采用了先進(jìn)的MWLI®技術(shù),能夠進(jìn)行高精度的非接觸式3D形貌測量,避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能對(duì)被測物體造成的損傷。這對(duì)于一些對(duì)表面質(zhì)量要求極高的物體,如非球面鏡片、球面、平面和自由曲面等,尤為重要。

該設(shè)備的優(yōu)勢眾多。其一,它具有極高的測量精度,再現(xiàn)性≤±50nm(3σ),能夠滿足您對(duì)高精度測量的需求。其二,它具有出色的測量穩(wěn)定性,Power變化<±20nm(3σ),PV變化<±5nm(3σ),確保測量結(jié)果的可靠性。其三,它的測量速度快,例如,測量直徑為30mm、Roc為60mm、100points/mm²的物體僅需1:45分鐘,大大提高了工作效率。
LUPHOScan260/420HD還具有很強(qiáng)的靈活性。它可以測量各種不同的表面類型,包括透明材料、金屬零件和磨砂表面等。對(duì)于不常見的表面形狀,如平頂或有拐點(diǎn)的輪廓,也能輕松應(yīng)對(duì)。最大測量直徑可達(dá)420mm,能夠滿足各種尺寸物體的測量需求。
該系統(tǒng)還具備功能強(qiáng)大的軟件模塊,LUPHOSoft軟件模塊可提供對(duì)復(fù)雜的或不連續(xù)光學(xué)元件的直接測量,能夠?qū)Ω鞣N特殊形狀進(jìn)行3D面形測量,并包含復(fù)雜的數(shù)據(jù)分析工具,方便您對(duì)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析。
非接觸式輪廓儀LUPHOScan260/420HD憑借其高精度、穩(wěn)定性、測量速度快和靈活性等優(yōu)勢,為您提供了一種可靠、高效的測量解決方案。選擇它,就是選擇了品質(zhì)與卓越,將為您的工作帶來極大的便利和價(jià)值。
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準(zhǔn)直儀與工業(yè)望遠(yuǎn)鏡在精密光學(xué)測量的應(yīng)用分析
精密制造、航空航天、光學(xué)工程等高端等領(lǐng)域,測量精度直接決定了產(chǎn)品性能與技術(shù)突破的邊界。光學(xué)測量技術(shù)憑借非接觸、高精準(zhǔn)、抗干擾性強(qiáng)的獨(dú)特優(yōu)勢,成為現(xiàn)代工業(yè)與科研不可或缺的核心手段。其中,準(zhǔn)直儀與工業(yè)望遠(yuǎn)鏡作為兩類關(guān)鍵的光學(xué)測量儀器,分別承擔(dān)著光束準(zhǔn)直與遠(yuǎn)距離目標(biāo)檢測的核心任務(wù),其原理設(shè)計(jì)與應(yīng)用實(shí)踐共同構(gòu)筑了精密測量體系的重要基礎(chǔ)。本文將系統(tǒng)解析準(zhǔn)直儀與工業(yè)望遠(yuǎn)鏡的結(jié)構(gòu)組成、工作機(jī)制及應(yīng)用價(jià)值,探尋其在高端制造與科研領(lǐng)域占據(jù)核心地位的深層邏輯。
2026-01-09
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電子自準(zhǔn)直儀光學(xué)如何讓角度測量達(dá)千分之一角秒精度?
在光學(xué)儀器的運(yùn)作體系中,光線的傳輸與偏轉(zhuǎn)控制是決定設(shè)備性能的核心要素。當(dāng)光線需穿過多個(gè)光學(xué)元件并完成特定偏轉(zhuǎn)時(shí),保持精準(zhǔn)的角度定位就成為技術(shù)實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵。傳統(tǒng)角度測量依賴操作員的目視檢查,受經(jīng)驗(yàn)、注意力等主觀因素影響較大,難以滿足高精度場景的需求。而電子自準(zhǔn)直儀的出現(xiàn),徹底改變了這一現(xiàn)狀,為光學(xué)角度測量帶來了兼具精準(zhǔn)性與可靠性的技術(shù)革新。
2026-01-09
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飛秒激光直寫技術(shù)的應(yīng)用——透明材料三維周期性光子結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新
飛秒激光直寫技術(shù)(FLDW)作為微納制造領(lǐng)域的革命性手段,憑借其高精度、高效率的三維加工能力,突破了傳統(tǒng)制造技術(shù)在透明材料光子結(jié)構(gòu)制備中的局限。本文系統(tǒng)闡述了FLDW的技術(shù)特性與核心優(yōu)勢,深入解析了光學(xué)非線性調(diào)制和折射率調(diào)控的理論基礎(chǔ),詳細(xì)介紹了三維非線性光子晶體(3DNPCs)在非線性光學(xué)、量子光學(xué)、光束整形及全息成像等領(lǐng)域的應(yīng)用成果,最后分析了當(dāng)前技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)并展望了未來發(fā)展方向,為該領(lǐng)域的進(jìn)一步研究與產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用提供參考
2026-01-09
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干涉測量技術(shù)的原理、前沿突破與應(yīng)用賦能
干涉測量作為現(xiàn)代精密測量領(lǐng)域的核心技術(shù)之一,憑借其納米級(jí)測量精度和廣泛的適配性,在科研探索、工業(yè)生產(chǎn)、民生保障等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。近年來,我國在該領(lǐng)域的科研創(chuàng)新與技術(shù)應(yīng)用持續(xù)取得突破,為相關(guān)行業(yè)發(fā)展注入強(qiáng)勁動(dòng)力。本文將系統(tǒng)闡述干涉測量技術(shù)的核心原理、前沿科研成果、光源選型要求及優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品支撐,展望其應(yīng)用前景。
2026-01-09
