i3D 光學(xué)形貌3D檢測設(shè)備
i3D 系列產(chǎn)品是非接觸式光學(xué)面形檢測設(shè)備,可實現(xiàn)旋轉(zhuǎn)對稱光學(xué)元件3D形貌的超精密、高速測量。適用于透明與非透明、光滑與粗糙等多種表面類型的檢測分析。
Product Details
i3D 系列產(chǎn)品是非接觸式光學(xué)面形檢測設(shè)備,可實現(xiàn)旋轉(zhuǎn)對稱光學(xué)元件3D形貌的超精密、高速測量。適用于透明與非透明、光滑與粗糙等多種表面類型的檢測分析。
產(chǎn)品應(yīng)用
*多波長干涉測量技術(shù)
*非接觸式測量
*適用于透明與非透明材料
*適用于多種類型表面
設(shè)備示意圖

測量結(jié)果

